先进封装2026年7月16日 8 分钟Die Bond 与 Flip Chip:±1–5 μm 对准是怎样做出来的从上下视野识别、坐标变换、XYθ 补偿到 Bond 后复检,逐段拆解高精度贴装的误差来源与验收方法。阅读文章
先进封装2026年7月16日 8 分钟Overlay 不是“更准的相机对准”:纳米级套刻的系统边界当指标从微米进入 10–50 nm,问题会从刚体 XYθ 定位升级为整片晶圆的形变建模、计量采样与过程控制。阅读文章